应用电子元器件筛选的高低温湿热试验箱

　　电子元件是高低温湿热试验箱的基础，在使用过程中由于其固有缺陷或制造过程控制不当，可能会导致与时间或应力相关的故障。为了保证整批零件的可靠性，满足整机的要求，有必要在使用条件下拆除早期可能出现故障的零件。零件的故障率可以随着时间的推移而使用。“浴缸曲线”描述故障率曲线。随着时间的推移，早期故障率迅速下降，在使用寿命(或意外故障期)内故障率基本保持不变。

　　1.高温贮存

 

　　大多数电子元件的故障都是由其机体和表面的各种物理原理引起的。.这些变化是由化学变化引起的，与温度密切相关。当温度升高时，化学反应速度大大加快，破坏过程也加快。使有缺陷的零件能够及时暴露，待拆除。

 

　　2.功率电老炼

 

　　在高低温湿热试验箱筛选过程中，在热电应力的共同作用下，可以很好地暴露组件内部和表面的各种潜在缺陷，这是一个重要的可靠性筛选项目。

 

　　一般情况下，各种电子元件的额定功率老化时间为168小时，有些产品，如集成电路，不能随意改变条件，但可以利用高温工作改善工作温度，实现高应力状态。选择合适的电压组件可以等于或略高于额定条件，但不能吸引新的故障机制。

 

　　3.温度循环

 

　　电子产品在高低温湿热试验箱使用过程中会遇到不同的环境温度条件。在热膨胀和冷缩应力的作用下，热匹配性能差的部件容易失效。极高温和极低温之间的热膨胀和冷缩应力可以通过温度循环筛分有效消除热性能缺陷的产品。常用的成分筛选条件为-55~+125℃，循环5~10次。

 

　　4.零件筛选的必要性

 

　　电子设备的固有可靠性取决于产品的可靠性设计。由于人为因素或原材料，在产品制造过程中，工艺条件随着设备条件的波动，成品不可能达到预期的固有可靠性。

 

　　高低温湿热试验箱能否可靠工作，取决于电子元器件能否可靠工作。如果在整机设备上安装早期故障部件，整机设备的早期故障率会大大提高，其可靠性无法满足要求，需要付出巨大的维修费用。